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X射線顯微CT技術(shù)是一種強(qiáng)大的成像工具，它使用X射線對(duì)樣品進(jìn)行高分辨率的三維成像。這種技術(shù)在醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。盡管X射線顯微CT提供了很高的圖像質(zhì)量和解析度，但其成像質(zhì)量受到多種因素的影響。以下是一些主要的影響因素：1.X射線源的穩(wěn)定性與質(zhì)量-射線穩(wěn)定性：X射線源的穩(wěn)定性直接影響到成像質(zhì)量。不穩(wěn)定的X射線輸出可能導(dǎo)致圖像噪聲增加，降低圖像的清晰度和對(duì)比度。-射線質(zhì)量：X射線的波長(zhǎng)和能量水平?jīng)Q定了其穿透力。不同材質(zhì)的樣品可能需要不同能量級(jí)別的X射線來(lái)優(yōu)...

在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的眾多奇跡中，X射線顯微成像系統(tǒng)無(wú)疑是一個(gè)引人注目的技術(shù)瑰寶。它利用X射線的強(qiáng)大穿透力，為我們提供了一個(gè)觀察微觀世界的全新窗口。這種系統(tǒng)不僅能透視固體材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而且能夠在不破壞樣品的前提下，揭示其復(fù)雜的內(nèi)部構(gòu)造和組成。X射線顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)相互作用時(shí)的吸收和散射現(xiàn)象。不同元素和化合物對(duì)X射線的吸收程度不同，利用這一性質(zhì)，X射線顯微成像可以高對(duì)比度地顯示出不同材料的分布和邊界。通過(guò)旋轉(zhuǎn)樣品并從多個(gè)角度進(jìn)行照射和檢測(cè)，可以得到足夠的數(shù)據(jù)重建出三維的...

隨著全球?qū)η鍧嵞茉葱枨蟮娜找嬖鲩L(zhǎng)，電池技術(shù)的進(jìn)步成為推動(dòng)這一轉(zhuǎn)變的關(guān)鍵因素之一。BrukerSkyScanX射線顯微鏡（XRM）因其在非破壞性高分辨率成像方面的優(yōu)異表現(xiàn)，正在電池材料研發(fā)與質(zhì)量控制中扮演著日益重要的角色。該技術(shù)的應(yīng)用能夠提高電池性能、延長(zhǎng)電池壽命，同時(shí)加速清潔能源的創(chuàng)新進(jìn)程。BrukerSkyScanXRM是一種先進(jìn)的3DX射線顯微成像技術(shù)，能夠?qū)ξ⒚咨踔良{米級(jí)結(jié)構(gòu)進(jìn)行非破壞性觀察。這一技術(shù)結(jié)合了高分辨率、快速成像和深度分析能力，可以對(duì)復(fù)雜樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行詳...

晶體學(xué)有時(shí)會(huì)讓人覺(jué)得很神奇，透過(guò)一個(gè)晶體，我們可以看到微觀的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。但是晶體在肉眼下就只是晶體，沒(méi)有X射線我們就只能看著它，可能對(duì)它無(wú)從下手。而且晶體結(jié)構(gòu)解析需要有一些已知的信息，不然我們就沒(méi)有辦法知道這里面會(huì)有什么。讓人失望的晶體做晶體實(shí)驗(yàn)總是會(huì)遇到一些意想不到的情況，晶體的生長(zhǎng)并不會(huì)按照我們的意愿進(jìn)行。偶爾欣喜若狂地看到的晶體興許只是一些雜質(zhì)，或者只是鹽罷了。如果你是做蛋白晶體的，你一定會(huì)十分沮喪，心情一定是180°的轉(zhuǎn)彎。記得讀書(shū)時(shí)發(fā)生過(guò)無(wú)數(shù)次這樣的情況，然而一般看到...

失效分析（FailureAnalysis）是探究元器件失效根源的重要手段，旨在為元器件設(shè)計(jì)、工藝、制造等流程提供改進(jìn)方向，從而提升產(chǎn)品良率和可靠性。在失效分析中，經(jīng)常遇到異形器件，其不規(guī)則的形狀與多元組件構(gòu)成的特征尤為明顯，直接影響著產(chǎn)品的性能。值得注意的是，特征尺寸在微米/亞微米級(jí)別的異形器件的表征往往存在著諸多挑戰(zhàn)。一方面，受限于傳統(tǒng)分析設(shè)備的空間分辨能力，元器件微小特征的微區(qū)分析會(huì)遇到難以準(zhǔn)確定位和準(zhǔn)確分析的障礙，直接影響了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。對(duì)此，PHI創(chuàng)新性推出了掃描...

以立方石榴石型Li7La3Zr2O12(LLZO)作為固態(tài)電解質(zhì)的固態(tài)電池（SSB），具有高鋰離子電導(dǎo)率、低電子導(dǎo)電率（EC）、高機(jī)械和熱穩(wěn)定性以及寬電化學(xué)窗口等特點(diǎn)，有望成為推動(dòng)下一代儲(chǔ)能技術(shù)騰飛的“種子選手”。不過(guò)研究發(fā)現(xiàn)LLZO表面容易產(chǎn)生由LiOH和Li2CO3組成的鋰離子非均勻（厚度、成分差異）絕緣層，導(dǎo)致LLZO與金屬鋰的潤(rùn)濕性較差，從而在充放電過(guò)程中引起高界面電阻甚至是Li枝晶的形成，嚴(yán)重影響LLZO-SSBs的電化學(xué)性能。為了增強(qiáng)固態(tài)電解質(zhì)與金屬鋰的浸潤(rùn)性，本...

在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)迅猛發(fā)展的今天，X射線顯微成像系統(tǒng)以其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等諸多領(lǐng)域發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。這種技術(shù)通過(guò)利用X射線的強(qiáng)大穿透力和高分辨率成像能力，為科學(xué)家們提供了一種非破壞性的方式，深入觀察和分析各種材料的微觀結(jié)構(gòu)。X射線顯微成像系統(tǒng)基于X射線與物質(zhì)相互作用時(shí)的吸收和相移特性。當(dāng)X射線穿過(guò)樣本時(shí)，不同密度和厚度的區(qū)域會(huì)以不同的程度吸收X射線，從而形成一幅反映樣本內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像。通過(guò)高精度的探測(cè)器和先進(jìn)的圖像處理算法，顯微成像系統(tǒng)能夠?qū)⑦@種差別轉(zhuǎn)化...

離子濺射源，作為表面分析設(shè)備（如XPS、AES和TOF-SIMS）的重要組件之一，不僅能清潔樣品表面，還能輔助深度剖析，揭示樣品的內(nèi)在結(jié)構(gòu)。根據(jù)構(gòu)成濺射離子的原子/分子個(gè)數(shù)，可將離子濺射源分為單離子源（如：Ar+、Xe+、O2+）和團(tuán)簇離子源（如：C60、GCIB（GasClusterIonBeam））。其中，GCIB是由數(shù)百乃至數(shù)千個(gè)氣體原子/分子（如Ar-GCIB）組成的離子束，它能夠以極低的單原子能量進(jìn)行蝕刻，實(shí)現(xiàn)樣品表面的平坦化效果。正因如此，GCIB在有機(jī)物刻蝕方面...